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致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)50/100 MHz 測(cè)試頻率50/100 Mbps 數(shù)據(jù)速率1024 數(shù)字通道管腳 (蕞高1280 數(shù)字通道管腳)高達(dá)1024 sites 并行測(cè)試32/64/128 pattern 記憶體16M capture memory per pin多樣化 VI 電源
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)
3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)
主要特色:
為因應(yīng)未來IC晶片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復(fù)雜的發(fā)展驅(qū)勢(shì),Chroma以此發(fā)展方向提供新一代3380系列VLSI測(cè)試機(jī)臺(tái),包含3380D、3380P、3380機(jī)型,根據(jù)不同的腳位數(shù)或并行測(cè)試(Parallel Test),提供需求與成本效益兼具的測(cè)試解決方案。
此系列機(jī)型之一的VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380,具有蕞高1280數(shù)字通道管腳、256 VI、彈性化架構(gòu)、以及完整選項(xiàng)功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同測(cè)的市場(chǎng)驅(qū)勢(shì),具備1024數(shù)字通道管腳可并行測(cè)試1024個(gè)晶片的能力。除了*的4-wire高密度IC電源(VI source)外,彈性化可調(diào)整的架構(gòu)還可提供Mini & Macro LED驅(qū)動(dòng)IC、CMOS影像感測(cè)器(CIS)、及3D影像測(cè)試等解決方案;以利涵蓋更廣泛的IC測(cè)試功能與應(yīng)用范圍。
3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)可無縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins),以因應(yīng)更高的產(chǎn)能需求。 3380系列VLSI測(cè)試系統(tǒng)無論在裝機(jī)、穩(wěn)定度、友善使用介面、及成本效益上,長(zhǎng)期以來皆已于中國(guó)市場(chǎng)獲得廣泛印證。
應(yīng)用范圍
取得產(chǎn)品價(jià)格. 點(diǎn)選您有興趣的產(chǎn)品并加入詢價(jià)車, 簡(jiǎn)單2步驟將詢價(jià)單寄給我們, 或繼續(xù)回到產(chǎn)品頁選取更多產(chǎn)品.
Model | Description | 詢價(jià) |
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3380 | VLSI 測(cè)試系統(tǒng) | |
致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)
3380P VLSI測(cè)試系統(tǒng)
主要特色:
為因應(yīng)未來IC晶片須具備更高速度及更多腳位及更復(fù)雜功能的IC晶片,Chroma新一代VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外,整合密度更高且功能更強(qiáng)大。
3380D/3380P/3380機(jī)型為因應(yīng)高同測(cè)(HighParallel Test)功能,除內(nèi)建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外,更具備Any Pins to Any Site高同測(cè)功能(512 I/O pin可并行測(cè)512 個(gè)測(cè)試晶片),以因應(yīng)未來IC晶片更高的測(cè)試需求。
3380P同時(shí)具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設(shè)計(jì)及非常具競(jìng)爭(zhēng)性的機(jī)臺(tái)性價(jià)比。
3380系列VLSI測(cè)試系統(tǒng)無論在裝機(jī)、穩(wěn)定度、友善使用介面、及成本效益上,長(zhǎng)期以來皆已于中國(guó)市場(chǎng)獲得廣泛印證。
涵蓋廣泛的應(yīng)用范圍
Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match...etc
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Model | Description | 詢價(jià) |
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3380P | VLSI 測(cè)試系統(tǒng) |
3380D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
主要特色:
為因應(yīng)未來IC晶片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復(fù)雜的發(fā)展驅(qū)勢(shì),Chroma VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外,整合密度更高,且功能更強(qiáng)大。
3380D/3380P/3380機(jī)型為因應(yīng)高同測(cè)功能(High Parallel Test),除內(nèi)建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source) 外,更具備any-pins-to-any-site高同測(cè)功能(256數(shù)字通道管可并行測(cè)256個(gè)測(cè)試晶片),以因應(yīng)未來IC晶片更高的測(cè)試需求。
3380D/3380P/3380系列同時(shí)具備機(jī)框式直流電源供應(yīng)的小型化、低耗能化設(shè)計(jì)及非常具競(jìng)爭(zhēng)性的機(jī)臺(tái)性價(jià)比。
3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)非常適合應(yīng)用于IoT相關(guān)的晶片測(cè)試,尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之MCU、MEMS等,VLSI測(cè)試系統(tǒng)3380D/3380P/3380 系列開發(fā)至今,已在大中華地區(qū)被廣泛的采用。
Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match, and etc.
3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP
3380D 3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card
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Model | Description | 詢價(jià) |
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3380D | VLSI 測(cè)試系統(tǒng) |